您现在的位置：
首页 >> 离线式AI缺陷AOI设备 >> 650纳米-晶圆隐切后缺陷
产品中心
产品中心
PRODUCTS
  • 650纳米-晶圆隐切后缺陷

  • 650纳米-晶圆隐切后缺陷

    8寸,12寸可兼容
    6    50nm像素/适用多种芯片
    TS16949认证/矿物铸件抗震

    • 0.00
      0.00
商品描述

8寸,12寸可兼容
650nm像素/适用多种芯片
TS16949认证/矿物铸件抗震